Detalls del llibre
This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials.
Llegir més - Autors Brent Fultz, Joi Ito Jeff Howe James Foster
- ISBN13 9783642297601
- ISBN10 3642297609
- Pàgines 764
- Any Edició 2012
- Fecha de publicación 14/10/2012
- Idioma Alemany, Francès
Ressenyes i valoracions
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Alemany, Francès)
- De
- Brent Fultz, Joi Ito Jeff Howe James Foster
- |
- SPRINGER (2012)
- 9783642297601



