Detalls del llibre
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE).
Llegir més - ISBN13 9780470016084
- ISBN10 0470016086
- Pàgines 392
- Any Edició 2007
- Fecha de publicación 26/01/2007
- Idioma Alemany, Francès
Ressenyes i valoracions
Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications (Alemany, Francès)
- De
- |
- John Wiley (2007)
- 9780470016084



