Detalls del llibre
The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.
Llegir més - Autor/a Patrick Echlin
- ISBN13 9780387857305
- ISBN10 0387857303
- Pàgines 332
- Any Edició 2009
- Fecha de publicación 19/03/2009
- Idioma Alemany, Francès
Ressenyes i valoracions
Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (Alemany, Francès)
- De
- Patrick Echlin
- 9780387857305



