Detalls del llibre

Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.

Llegir més

ISBN13 9781848165366
ISBN10 1848165366
Pàgines 348
Any Edició 2010
Fecha de publicación 01/09/2010
Idioma Alemany, Francès

Llegir més

Ressenyes i valoracions

Sigues la primera persona a valorar-lo!

Has llegit Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction?

Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (Alemany, Francès)

Name: Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction
Price: 95.09 EUR
Availability: OutOfStock
ISBN: 9781848165366